作品描述

1、背景介绍 在确保向客户交付高质量产品的过程中，来料检验扮演着至关重要的角色。其中，芯片标识信息的准确核对是防止物料混错的关键步骤。传统的人工检验流程涉及检索规格书中的芯片标识要求，并与实物标识进行对比。这一过程不仅繁琐且耗时，尤其是在面对种类繁多、篇幅冗长（有时长达数百页）的规格书时，查找标识信息要求变得异常困难，严重影响了工作效率。 2、项目方案 为了解决上述问题，本项目创新性地结合了RPA、OCR和NLP技术。通过这一集成方案，实现了自动根据代码、型号、供应商信息，自动检索并下载规格书，利用关键词定位标识信息字段，自动获取标识信息要求。更进一步地，结合视觉检验技术，自动比对实物标识信息的准确性，从而高效完成整个芯片标识信息检验工作。 3、项目收益 （1）工时节省： 采用人工检索比对的方式，每批次检验需耗时约6分钟。而通过RPA实现自动化循环获取丝印信息并智能检验比对后，时间缩短至每批25秒左右，平均每月4000+单，每月可节省工时每月360h以上。 （2）质量收益： 人工检索比对依赖于操作人员的细致程度，容易出现标识信息获取错误、漏比对、实物标识与要求不符未被发现等问题。引入RPA+视觉检验后，确保了100%的比对覆盖率及准确性，显著提高了芯片来料检验的质量。 （3）流程精简： 使用RPA技术后，原本需要人工处理的多个步骤——包括打开网站输入代码、下载规格书、打开规格书、检索标识信息、人工比对实物标识一致性等——均被自动化替代。员工仅需执行输入代码和型号信息至Excel以及实物拍照上传两个基本流程即可完成任务，极大地简化了业务流程。 4、可推广性 在当前的电子行业里，芯片作为极为关键的材料，确保其来料质量成为了各公司着重关注的业务，具备极高的行业推广价值。并且，此项目还能够横向拓展至其他种类需要检验标识信息的材料当中，提高检验效率，降低人力成本。